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QCYQ-JS9000B矿石专用光谱分析仪
先进制成Peltier电制冷 FASTSDD硅漂移检测器
真空光路配备薄膜滤光片技术，提高轻元素检出限
可分析40种元素
可分析固体，液体，粉末和泥浆
原装进口X光管管芯提供可靠卓越样品激发性能
无损检测，快速分析（3-4分钟出结果）
无需化学试剂，无耗材，更环保，更高效
QCYQ-JS9000B矿石专用光谱分析仪主要应用于采矿作业（勘探、开采、品位控制），工业矿物，生产水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化学学术研究，考古等。线性动态范围，可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行精度的过程控制和质量控制。具有全新真空光路系统和分辨率技术的新一代fast sdd检测器，对轻、中、重元素和常见氧化物（Na2o、Mgo、Al2o3、Sio2、P2o5、So、k2o、Cao、Tio2、Cr2o、Mno、Fe2o、Zno和sro等）都可达到分析效果。
分析性能，使其可以轻松完成对以下矿种的测试：
铁矿(磁铁矿、赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等)
铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等) 铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等)
钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等) 钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等)
钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等) 铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等)
镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等) 铝土矿 其它矿类
产品特点
1.小型化、高性能、高速度、易操作，高灵敏度、高精度分析
2.可分析40种元素
3.采用多准直器多滤光片和扣背景专利技术
4. Peltier电制冷 FASTSDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率
5.超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统
6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作
7.专利薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限
>仪器参数
仪器外观尺寸: 565mm*385mm*415mm |
超大样品腔：465mm*330mm*110mm |
半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm |
仪器重量:48Kg |
元素分析范围：Na11-U92钠到铀 |
可分析含量范围：1ppm-99.99% |
探测器：AmpTek 超高分辨率电制冷FastSDD硅漂移检测器 |
探测器分辨率：122eV FWHM at 5.9 keV |
处理器类型：全数字化DP-5分析器 |
谱总通道数：4096道 |
X光管：高功率50瓦光管（原装进口管芯），冷却方式：硅脂冷却 |
光管窗口材料：铍窗 |
准直器：多达8种选择，小0.2mm |
滤光片：7种滤光片的自由选择和切换 |
高压发生装置：原装美国高压，电压输出：0-50kV；输出电流：0-1mA |
高压参数：小5kv可控调节，自带电压过载保护，输出精度：0.01% |
样品观察系统：500万像素高清CCD摄像头 |
电压：220ACV50/60HZ |
环境温度：-10 °C 到35 °C |
仪器配置
>标准配置 |
>可选配置 |
纯Ag初始化标样 |
磨样机 |
真空泵 |
压片机 |
矿石专用样品杯 |
烘干箱 |
USB数据线 |
全自动熔样机 |
电源线 |
电子秤 |
测试薄膜 |
矿石标准物质 |
仪器出厂和标定报告 |
交流净化稳压电源 |
保修卡 |
150目筛子 |
全新设计的XTEST分析软件
软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。
光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量
对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即所有基质效应，增强和吸收。
谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可显示多个光谱图
可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。
可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的小二乘拟合进行定量分析。
基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品。
辅助设备清单客户自购
30T电动压饼机一 台 稳压电源 隔离变压电源各一台
破碎机(粉状不要) 制样机 各一台
电子称 千分之一 1台 硼酸99.95%分析纯
称量纸 120*120 无尘布 120*120
洗耳球 2个 标签纸 一包 自封袋60*60 数包
联系人：范茂海
